本發(fā)明涉及分析物測試傳感器及其系統(tǒng)和測量至少一種分析物的方法。其中,分析物測試傳感器包括:用于形成樣本池的至少兩個基板,所述樣本池包括至少一個主區(qū)域、第一次分析區(qū)和第二次分析區(qū),所述第一次分析區(qū)包括工作電極,所述工作電極由試劑組合物和第一導(dǎo)體形成,所述第二次分析區(qū)包括一個對向電極,所述對向電極由電荷遷移系統(tǒng)和第二導(dǎo)體形成;至少一個樣本端口,其與所述樣本池具有流體連通;第一通氣孔,其與所述第一次分析區(qū)具有流體連通;以及第二通氣孔,其與所述第二次分析區(qū)具有流體連通,其中,穿過所述第二次分析區(qū)到所述對向電極,不能畫出從所述工作電極穿過所述第一次分析區(qū)并穿過所述主區(qū)域的直線。
聲明:
“分析物測試傳感器及其系統(tǒng)和測量至少一種分析物的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)