本發(fā)明涉及用于分析測(cè)量介質(zhì)的測(cè)量設(shè)備和用于確定分析值的方法,測(cè)量設(shè)備包括:探頭殼體;輻射源;耦合和去耦光學(xué)器件,具有布置在探頭殼體中的至少一個(gè)測(cè)量窗口,并且將輻射源的輻射耦合到測(cè)量區(qū)域中,測(cè)量區(qū)域布置在探頭殼體外部并且測(cè)量介質(zhì)位于測(cè)量區(qū)域中,并且將測(cè)量輻射從測(cè)量區(qū)域去耦;接收裝置,通過耦合和去耦光學(xué)器件檢測(cè)從測(cè)量區(qū)域去耦的測(cè)量輻射并且從檢測(cè)到的測(cè)量輻射生成輸出數(shù)據(jù);至少一個(gè)附加物理或化學(xué)傳感器,集成在探頭殼體中并且檢測(cè)測(cè)量介質(zhì)的被測(cè)變量并且將被測(cè)變量的值輸出作為測(cè)量信號(hào);和電子測(cè)量單元,連接到接收裝置并且收集和處理接收裝置的輸出數(shù)據(jù),其中電子測(cè)量單元連接到附加物理或化學(xué)傳感器并且收集和處理附加物理或化學(xué)傳感器的測(cè)量信號(hào)。
聲明:
“用于分析測(cè)量介質(zhì)的測(cè)量設(shè)備和用于確定分析值的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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