本發(fā)明公開了一種基于離子型銥配合物電致化學(xué)發(fā)光與分子印跡識別技術(shù)聯(lián)用快速檢測可待因的方法。首次將陽離子交換劑Nafion、多壁
碳納米管與離子型銥配合物制備復(fù)合溶液,取適量滴涂在電極表面制得[(bpq-OCH3)2Ir(dcbpy)]+PF6-/MWCNT/Nafion電致化學(xué)發(fā)光修飾電極;再采用電聚合法在該修飾電極上制備分子印跡層。首次實現(xiàn)了基于離子型銥配合物電致化學(xué)發(fā)光-電聚合分子印跡識別對可待因的檢測,靈敏度較高、選擇性好,在1.0×10-11~5.0×10-9mol·L-1有很好的線性,線性方程為IECL=11.21log?C+127.98,r=0.9962,檢出限達(dá)到9.23×10-12mol·L-1(S/N=3)。
聲明:
“基于離子型銥配合物電致化學(xué)發(fā)光-電聚合分子印跡識別檢測可待因的新型方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)