本公開涉及一種
電化學(xué)裝置退化模型確定方法、電化學(xué)裝置退化預(yù)測(cè)方法。該方法包括:獲取待預(yù)測(cè)電化學(xué)裝置在變工況狀態(tài)下的實(shí)時(shí)運(yùn)行數(shù)據(jù),實(shí)時(shí)運(yùn)行數(shù)據(jù)包括第一運(yùn)行參數(shù)的第一數(shù)值以及第二運(yùn)行參數(shù)的第二數(shù)值;根據(jù)第二數(shù)值以及電化學(xué)裝置模型,確定待預(yù)測(cè)電化學(xué)裝置的退化指標(biāo)的第三數(shù)值,根據(jù)第一數(shù)值以及第三數(shù)值,對(duì)初始的退化模型進(jìn)行訓(xùn)練,得到訓(xùn)練后的退化模型,電化學(xué)裝置包括電池和/或電解池。本公開實(shí)施例的電化學(xué)裝置退化模型的確定方法,能夠訓(xùn)練得到退化模型,該退化模型能夠?qū)ΥA(yù)測(cè)電化學(xué)裝置的退化信息進(jìn)行準(zhǔn)確預(yù)測(cè)。
聲明:
“電化學(xué)裝置退化模型確定方法、電化學(xué)裝置退化預(yù)測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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