本發(fā)明提供一種帶hopping跳躍成像模式的
電化學成像測量方法,原理圖如圖2所示。實驗時探針從距離樣品基底H高度的位置開始向下步進,當檢測到的電流達到電流閾值I時探針停止移動,記錄此時探針的移動距離D,用H?D作為這個點的檢測值,然后自動返回到H高度上繼續(xù)下一個點的檢測。帶hopping跳躍成像模式的電化學成像測量方法可以防止探針與被測樣品發(fā)生剛性接觸,避免損壞探針。且電化學成像測量結果中的每個檢測點都足夠接近被測樣品表面,使電化學成像的分辨率得到顯著的提高。
聲明:
“帶hopping跳躍成像模式的電化學成像測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)