公開了包括與檢測組件集成樣品制備組件的集成裝置。所述樣品制備組件可為數(shù)字微流體模塊或表面聲波模塊,所述模塊用于將樣品液滴與試劑液滴組合且用于進(jìn)行額外樣品制備步驟,產(chǎn)生含有指示所述樣品中所關(guān)注分析物的存在或不存在的珠粒/顆粒/標(biāo)記的液滴。可通過將所述液滴移動(dòng)到所述裝置的所述檢測組件來檢測所述珠粒/顆粒/標(biāo)記,所述檢測組件包括井陣列。公開被配置成操作分析物檢測
芯片以制備測試樣品且在所述分析物檢測芯片中檢測來自所制備測試樣品的分析物相關(guān)信號的額外分析物檢測裝置。所述分析物檢測芯片可包括可覆蓋或可空間上分離的數(shù)字微流體(DMF)區(qū)域和分析物檢測區(qū)域。所述分析物檢測裝置可被配置成用于通過可操作地與插入到所述裝置中的分析物檢測芯片連接的光學(xué)或
電化學(xué)構(gòu)件來檢測分析物。
聲明:
“用于樣品分析的裝置和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)