本發(fā)明涉及一種用于檢測并分析材料2中的至少一種材料偏差的未受影響的材料分析的方法。該方法的特征在于,通過使用被布置成與材料接觸的觸覺傳感器4對材料2中硬度不同的區(qū)域1進(jìn)行檢測,用色譜光A對所檢測的區(qū)域進(jìn)行照射以獲得光譜形式的反射光B,以及對所獲得的光譜進(jìn)行分析以獲得關(guān)于材料的物理及化學(xué)的分子結(jié)構(gòu)的信息。本發(fā)明還涉及一種裝置。
聲明:
“用于未受影響的材料分析的方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)