本發(fā)明公開一種激光輔助全反射X熒光鈾礦痕量元素分析裝置,其包括激發(fā)光源、探測裝置、樣品臺、激光輔助分析裝置、分析器及電路輸出設(shè)備。本發(fā)明的優(yōu)點在于:夠快速、有效的樣品定位及面積、厚度監(jiān)測,克服樣品的厚度、面積變化對全反射光學(xué)的影響,提高TXRF測量準確度。采用全反射X射線熒光分析原理,能夠快速檢測樣品中痕量重金屬的含量,簡單快捷并且低成本;精度高,測量時間短,人為誤差小,操作者勞動強度低;本發(fā)明X熒光測重金屬儀無化學(xué)污染、無放射性污染、測量時間短、精度高、結(jié)構(gòu)簡單、安全可靠,使用方便。
聲明:
“激光輔助全反射X熒光鈾礦痕量元素分析裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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