鐵品位分析儀源靶裝置涉及一種專用于分析鐵 精礦粉全鐵含量的鐵品位分析儀的源靶裝置, 由鐵殼和安裝在 鐵殼內(nèi)的源室238Pu、放射源和正 比計數(shù)管以及鐵精礦粉樣品構(gòu)成。樣品受 238Pu低能γ射線照射后放出特 征X射線, 利用正比計數(shù)管測出鐵峰X射線計數(shù)并利用相對分 析方法, 可測定樣品中的全鐵含量。本實用新型結(jié)構(gòu)緊湊, 一次 測量總分析誤差小于±0.45%, 達到國家規(guī)定的化學分析法的精 度, 故特別適用于即時、快速分析鐵精礦粉全鐵含量。
聲明:
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