本發(fā)明提供了一種用于檢測(cè)化學(xué)物質(zhì)的非標(biāo)定型檢測(cè)系統(tǒng)及其檢測(cè)的方法,非標(biāo)定型檢測(cè)系統(tǒng)包括:一非標(biāo)定型檢測(cè)晶片,其包含多組具有不同周期長(zhǎng)度的周期性金屬結(jié)構(gòu);以及一窄頻光源。本發(fā)明的檢測(cè)方法簡(jiǎn)便快速、成本低廉,可直接用肉眼觀察,也可進(jìn)一步進(jìn)行定性與半定量的分析,非常適用于定點(diǎn)照護(hù)檢測(cè)。
聲明:
“非標(biāo)定型檢測(cè)系統(tǒng)及其檢測(cè)的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)