本發(fā)明公開的是一種表征纖維沿徑向不同深度化學(xué)結(jié)構(gòu)的方法。其內(nèi)容包括1)首先對纖維表面特定微區(qū)進(jìn)行X射線光電子能譜測試;2)調(diào)整氬離子槍的濺射角度與離子源能量對測試區(qū)域進(jìn)行原位濺射剝離處理;3)重復(fù)上述步驟。通過X射線光電子能譜測試與原位氬離子濺射交替進(jìn)行,實(shí)現(xiàn)纖維沿徑向不同深度化學(xué)結(jié)構(gòu)的分析。本發(fā)明的核心是采用X射線光電子能譜?氬離子槍濺射聯(lián)用技術(shù),通過X射線光電子能譜測試與原位的氬離子濺射交替進(jìn)行,獲得纖維特定微區(qū)沿徑向不同深度化學(xué)結(jié)構(gòu)信息,即深度剖析。
聲明:
“表征纖維沿徑向不同深度化學(xué)結(jié)構(gòu)的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)