本發(fā)明涉及一種用于定位
電化學(xué)存儲(chǔ)器(165)中的缺陷的方法。該方法包括對(duì)電化學(xué)存儲(chǔ)器(165)的部分區(qū)域(145、150、155、160、170)調(diào)溫以便提高所述部分區(qū)域(145、150、155、160、170)的內(nèi)部壓力的步驟;檢測(cè)測(cè)量值的步驟,所述測(cè)量值代表響應(yīng)于所述部分區(qū)域(145、150、155、160、170)的提高的內(nèi)部壓力而進(jìn)行的成分從所述部分區(qū)域(145、150、155、160、170)的逸出;和當(dāng)所述測(cè)量值與比較值有預(yù)定的關(guān)系時(shí)定位所述部分區(qū)域(145、150、155、160、170)中的缺陷的步驟。
聲明:
“用于定位電化學(xué)存儲(chǔ)器中的缺陷的方法和設(shè)備和缺陷定位系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)