本發(fā)明公開(kāi)了一種絲狀微電極及其對(duì)
電化學(xué)腐蝕速率的修正方法與應(yīng)用,屬于金屬腐蝕與防護(hù)技術(shù)領(lǐng)域。該絲狀微電極包括直徑<100μm的絲狀試樣,和位于絲狀試樣一端的金屬導(dǎo)線,及用于包覆絲狀試樣兩側(cè)的顯微鏡載玻片和蓋玻片,且絲狀試樣表面固化有環(huán)氧樹(shù)脂,絲狀試樣與金屬導(dǎo)線之間通過(guò)錫焊或涂覆導(dǎo)電銀膠的方式相連接。本發(fā)明設(shè)計(jì)通過(guò)絲狀微電極的一維擴(kuò)散特性獲得傳統(tǒng)電化學(xué)測(cè)試的腐蝕速率及借助于顯微鏡測(cè)量的平均腐蝕速率,對(duì)兩種方法獲得的腐蝕速率進(jìn)行對(duì)比,獲得電化學(xué)測(cè)試腐蝕速率的修正系數(shù),此系數(shù)可用于修正塊體試樣通過(guò)電化學(xué)測(cè)試計(jì)算的腐蝕速率。
聲明:
“絲狀微電極及其對(duì)電化學(xué)腐蝕速率的修正方法與應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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