本發(fā)明公開(kāi)了一種鎂合金表面薄液膜電化學(xué)實(shí)驗(yàn)裝置及其實(shí)驗(yàn)方法，其裝置部分包括底座系統(tǒng)、電解池系統(tǒng)和測(cè)量控制系統(tǒng)；其采用杠桿調(diào)節(jié)裝置、電解槽底板調(diào)平螺栓、千分表調(diào)節(jié)支架、蠕動(dòng)泵等一系列技術(shù)手段，以獲得100μm以下的不同厚度的薄液膜條件，并通過(guò)在電解池內(nèi)部的形成有多孔結(jié)構(gòu)的絕緣柱體內(nèi)部空腔結(jié)構(gòu)，可以避免長(zhǎng)時(shí)間浸泡實(shí)驗(yàn)中鎂合金腐蝕產(chǎn)生的氫氣對(duì)薄液膜厚度的影響，保證薄液膜厚度均一、穩(wěn)定，從而仿真性模擬人體內(nèi)部微環(huán)境下，鎂/鎂合金腐蝕的真實(shí)情況；其具有構(gòu)造簡(jiǎn)單、操作簡(jiǎn)便，可滿足全面研究鎂合金的腐蝕電化學(xué)行為的實(shí)驗(yàn)需要；其實(shí)驗(yàn)方法簡(jiǎn)單、實(shí)驗(yàn)結(jié)果真實(shí)、準(zhǔn)確。