本發(fā)明公開了一種基于強(qiáng)化學(xué)習(xí)的電路參數(shù)優(yōu)化方法及系統(tǒng),其中,該方法包括:獲取仿真電路的優(yōu)化參數(shù)和觀測信息,并對優(yōu)化參數(shù)進(jìn)行初始化;將觀測信息輸入預(yù)先訓(xùn)練好的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型,以輸出優(yōu)化參數(shù)的更新量;根據(jù)更新量對優(yōu)化參數(shù)進(jìn)行更新以達(dá)到優(yōu)化目標(biāo)。該方法可以快速得到給定設(shè)計參數(shù)及設(shè)計目標(biāo)下最優(yōu)的優(yōu)化參數(shù),提高電路設(shè)計效率,縮短電路產(chǎn)品的上市時間。
聲明:
“基于強(qiáng)化學(xué)習(xí)的電路參數(shù)優(yōu)化方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)