本發(fā)明實施例提供了一種檢測顯示面板電學(xué)不良的方法及裝置,檢測顯示面板電學(xué)不良的方法包括:利用光學(xué)觀察的方法確定目標區(qū)域,目標區(qū)域為顯示面板上出現(xiàn)電學(xué)不良的區(qū)域;將目標區(qū)域的底層電路暴露出來;形成導(dǎo)線,通過導(dǎo)線將目標區(qū)域的底層電路連接至信號線;將目標區(qū)域與周邊的其他區(qū)域隔離開,利用信號線向目標區(qū)域的底層電路輸入電信號進行電路測試。這樣,通過本發(fā)明實施例的檢測方法可以有效確定顯示面板上產(chǎn)生化學(xué)不良的具體位置,通過對目標區(qū)域進行FIB分析測試,可以進一步找到該顯示面板在設(shè)計、工藝或制程中產(chǎn)生不良的原因,達到提升顯示面板合格率的目的。
聲明:
“檢測顯示面板電學(xué)不良的方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)