本發(fā)明屬于分析化學技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種線粒體定位的碳點、制備方法及其在銀離子檢測中的應(yīng)用,所制備的碳點在銀離子的濃度為0至1毫摩爾每升發(fā)光強度呈現(xiàn)線性降低,具有比較寬的pH應(yīng)用范圍、很好的光和熱穩(wěn)定性、選擇性、抗干擾性,并且能夠定位線粒體,適用于細胞內(nèi)銀離子的雙通道熒光檢測。
聲明:
“線粒體定位的碳點、制備方法及其在銀離子檢測中的應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)