本發(fā)明提供了一種青色力致發(fā)光材料,可在?270℃至?50℃的低溫條件下實(shí)現(xiàn)材料損傷檢測,其化學(xué)通式為Ba
(1?X)Si
2O
2N
2:Eu
2+(X),其中,X的取值范圍為:0.0001≤X≤0.5,其陷阱分布范圍為?270℃至400℃。本發(fā)明還提供了上述青色力致發(fā)光材料的制備方法和應(yīng)用。本發(fā)明的青色力致發(fā)光材料,使用Eu
2+作為光吸收中心,吸收可見光后將能量存儲(chǔ)于電子陷阱中,用于低溫條件下的檢測應(yīng)用,更有利于極低溫下的損傷檢測應(yīng)用。
聲明:
“應(yīng)用于低溫檢測的青色力致發(fā)光材料及其制備方法和應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)