本發(fā)明提供了可提高觸摸屏玻屏AOI檢測良品率的AOI算法和工藝,其特征在于:在AOI新算法中,將玻屏的檢測區(qū)域劃分為視窗區(qū)和非視窗區(qū)后,進(jìn)行AOI的檢測;在絲印工藝前檢測和絲印后檢測的AOI檢測工序中,包括對各區(qū)域是否存在可容許臟污和不容許臟污的判斷;所述臟污為可被清除的污染物;如果是可容許臟污將會被AOI算法視同良品進(jìn)入下道工藝。而本發(fā)明涉及的AOI檢測方法,旨在克服現(xiàn)有玻璃生產(chǎn)工藝和AOI檢測的配合上存在的良品率低下的缺陷,以避開臟污(含化學(xué)溶劑殘留物、灰塵、纖維、指印和污跡)對檢測的良品率的影響(高達(dá)80%)來實現(xiàn)AOI檢測良品率的提高,使得AOI在觸摸屏玻屏檢測中能有效地替代人工檢測。
聲明:
“可提高觸摸屏玻屏AOI檢測良品率的AOI算法/工藝方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)