本發(fā)明涉及掃描探針成像技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種基于單量子點(diǎn)的近場(chǎng)探針及探針體系,以及基于該探針體系的檢測(cè)裝置及方法。單量子點(diǎn)掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微探針,是將單量子點(diǎn)通過靜電力或化學(xué)粘附劑裝載到介質(zhì)針尖用作探針,介質(zhì)針尖為錐形光纖或者原子力顯微鏡探針。本發(fā)明的近場(chǎng)探針體系能有效地克服傳統(tǒng)掃描近場(chǎng)光學(xué)探針扭曲樣品光學(xué)性質(zhì)、信噪比低、重復(fù)性差等缺陷;單量子點(diǎn)近場(chǎng)探針成像分辨率能達(dá)到與單量子點(diǎn)尺寸同一量級(jí),一般優(yōu)于10納米空間分辨率。檢測(cè)方法具有基于熒光強(qiáng)度成像和熒光壽命成像,可傳感樣品形貌、材料成分、光學(xué)近場(chǎng)分布等多維度的物理量信息。
聲明:
“單量子點(diǎn)掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微探針及體系、檢測(cè)裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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