本申請?zhí)峁﹥善瑹o缺陷的單層
石墨烯作為探針,并將其轉(zhuǎn)移到待測光電極和導(dǎo)電玻璃對照電極的表面,然后根據(jù)電極性質(zhì)設(shè)置
電化學(xué)原位拉曼光譜測試條件,并對待測電極及對照電極進行原位拉曼光譜測試;通過擬合對照電極上石墨烯G峰波數(shù)與外加電勢(費米能級)之間的關(guān)系,得到參照曲線,將待測電極表面測試得到的石墨烯G峰波數(shù)與參照曲線進行比較計算,即可定量得到待測電極的費米能級;該方法能夠?qū)⒉灰诇y量的光電極費米能級進行直接測量,有利于光電極的材料的進一步優(yōu)化。
聲明:
“不透明光電極費米能級檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)