本發(fā)明提供一種通過(guò)光測(cè)定來(lái)進(jìn)行高速且高可靠性的良好與否判斷的新技術(shù)。至少在1100~1300nm具有連續(xù)的光譜的超晶格光從脈沖光源(1)出射,并以一脈沖中的波長(zhǎng)與經(jīng)過(guò)時(shí)間的關(guān)系成為1對(duì)1的方式被伸長(zhǎng)元件(2)脈沖拉伸而照射到產(chǎn)品(P)。透過(guò)產(chǎn)品(P)的光被受光器(3)接收,輸出數(shù)據(jù)被輸入到判斷單元(7)。判斷單元(7)的良好與否判斷程序(43)根據(jù)輸出數(shù)據(jù)計(jì)算吸收光譜,利用化學(xué)計(jì)量學(xué)進(jìn)行量化而與基準(zhǔn)值進(jìn)行比較,判斷良好與否。被判斷為是不良品的產(chǎn)品(P)被排除機(jī)構(gòu)(8)排除。
聲明:
“產(chǎn)品檢查方法及產(chǎn)品檢查裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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