本發(fā)明屬于高線性激光器陣列
芯片測(cè)試領(lǐng)域,高線性激光器陣列芯片的檢測(cè)設(shè)備由于體積大、投資多,費(fèi)工時(shí),不能連續(xù)測(cè)量,自動(dòng)化程度低,且硬件檢測(cè)也需要大量代表性樣品進(jìn)行化學(xué)分析建模,對(duì)小批量的芯片測(cè)試不切實(shí)際;本發(fā)明利用Cadence軟件,引入電源電壓、差分輸入電壓、參考電流,溫度補(bǔ)償調(diào)制電阻,偏置電流,激光器調(diào)制電流,環(huán)路失效報(bào)警信號(hào),自動(dòng)功率控制接地模塊,搭建了一套方便快捷,顯示直觀,功能較齊全的智能測(cè)試系統(tǒng),完成高線性激光陣列芯片的各項(xiàng)性能測(cè)試,本發(fā)明不需要任何硬件設(shè)備,能夠驗(yàn)證高線性激光器陣列芯片各項(xiàng)性能是否達(dá)標(biāo)。
聲明:
“基于Cadence高線性激光器陣列芯片的測(cè)試系統(tǒng)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)