本發(fā)明屬于化學(xué)物質(zhì)檢測技術(shù)領(lǐng)域,可用于對(duì)物質(zhì)的化學(xué)成分進(jìn)行高靈敏度探測鑒別。本發(fā)明使用多個(gè)探測器同時(shí)探測不同波長下的熒光壽命及光譜信息,能對(duì)微弱的自發(fā)熒光光譜及熒光壽命進(jìn)行高靈敏度的探測,具有探測精度高,探測速度快的特點(diǎn)。同時(shí),本發(fā)明利用針孔對(duì)收集到的熒光信號(hào)進(jìn)行濾波,提高系統(tǒng)的分辨率;利用掃描系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)被測物質(zhì)二維或三維熒光壽命及熒光強(qiáng)度譜分布的測量。因此,本發(fā)明的提出為待測物質(zhì)熒光壽命及熒光光譜的高靈敏度便捷測量提供了可行途徑,將在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等研究領(lǐng)域及臨床醫(yī)學(xué)診斷方面具有重要應(yīng)用。
聲明:
“多探測器分立熒光光譜及熒光壽命探測方法與裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)