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用硒膜修飾電極測定銅離子的方法

668   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網  
2023-03-19 07:24:12
一種用硒膜修飾電極測定銅離子的方法,采用電化學三電極測試系統(tǒng)和陽極溶出微分計 時電勢法進行測定,以熱裂解石墨為電極基質,在稀鹽酸酸化介質中經Na2SeO3、Cu(II)還 原共富集時形成的硒膜作為工作電極,其上共還原富集銅的硒化物Cu2Se,通過記錄工作電 極上電勢E隨測試時間T的變化函數(shù)并進行微分處理得到dT/dE→E的微分曲線,通過微分 曲線上特征響應峰的高度計算Cu(II)的含量。本發(fā)明方法克服了傳統(tǒng)汞電極的環(huán)境危害和劇 毒性等缺點,并且具有測試靈敏度高,抗干擾性強,環(huán)保性好,成本低,流程短,便于操作, 效率高的優(yōu)點,可用于天然水質中微量或痕量銅離子的分析測定。
聲明:
“用硒膜修飾電極測定銅離子的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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