本發(fā)明提供了一種基于DQN和DNN孿生神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法的半導(dǎo)體測試封裝生產(chǎn)線性能預(yù)測控制系統(tǒng)，包括建立測試封裝生產(chǎn)線模型與基于DQN和DNN算法進行性能預(yù)測控制兩個部分，其中，所述建立測試封裝生產(chǎn)線模型包括：步驟1：建立生產(chǎn)線系統(tǒng)性能常用指標；步驟2：建立半導(dǎo)體芯片測試封裝生產(chǎn)線模型；步驟3：計算性能指標，所述基于DQN和DNN算法進行性能預(yù)測控制包括：步驟1：DNN孿生深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)特征提??；步驟2：DQN深度強化學(xué)習(xí)訓(xùn)練；步驟3：進行性能預(yù)測控制。本發(fā)明綜合半導(dǎo)體生產(chǎn)封裝測試線的性能預(yù)測指標構(gòu)建后，基于DNN孿生DQN方法來進行特征構(gòu)建和強化網(wǎng)絡(luò)性能預(yù)測控制，直到狀態(tài)趨于穩(wěn)定，則此時的輸出變量為指標，從而設(shè)置閾值進行相應(yīng)的控制。