本發(fā)明公開了一種通過TGDSC收集細(xì)顆粒物測試SEM和TEM的方法,包括以下步驟:步驟一、通過在TGDSC儀器出氣口的管道上安裝一個含有氣體過濾膜的氣體采樣夾,然后將單晶硅片和帶碳膜的銅網(wǎng)通過雙面膠固定在濾膜上;本發(fā)明由于TGDSC的實驗過程中可以改變的實驗參數(shù)很多,可以對樣品的溫度范圍,樣品量,升溫速率,氣體種類,氣氛和氣體流量進行調(diào)節(jié),也可以通過改變樣品的化學(xué)成分進行TGDSC實驗得到不同實驗條件下的熱反應(yīng)過程,同時可以收集對應(yīng)反應(yīng)過程下的細(xì)顆粒物用于SEM和TEM分析,最后建立起燃燒動力學(xué)和細(xì)顆粒物生成規(guī)律,為控制細(xì)顆粒物的生成提供一個有效的實驗室解決方案。
聲明:
“通過TGDSC收集細(xì)顆粒物測試SEM和TEM的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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