本發(fā)明公開一種雙能X射線測(cè)量地層密度測(cè)井裝置和方法，具體涉及石油及天然氣勘探領(lǐng)域。該裝置采用X射線管、電子加速管、監(jiān)測(cè)探測(cè)器、遠(yuǎn)近兩個(gè)NaI探測(cè)器。首先，利用監(jiān)測(cè)探測(cè)器確保X射線產(chǎn)額穩(wěn)定。然后，利用X射線在地層衰減原理，建立地層電子密度與高、低能窗計(jì)數(shù)的響應(yīng)關(guān)系，從而計(jì)算精確的地層電子密度，通過地層電子密度與地層密度關(guān)系進(jìn)一步計(jì)算地層密度。本發(fā)明通過采用監(jiān)測(cè)探測(cè)器確保X射線產(chǎn)額穩(wěn)定等手段，同現(xiàn)有方法相比獲得了更為準(zhǔn)確的計(jì)算基礎(chǔ)，從而可以計(jì)算出準(zhǔn)確的地層密度。另外，本發(fā)明裝置還克服了對(duì)化學(xué)源的使用，更加健康、安全和環(huán)保，并有效降低了對(duì)電子加速管和探測(cè)器等的工藝要求。