本公開提供了一種全自動探測系統(tǒng)和方法。該全自動探測系統(tǒng)包括:第一檢測裝置,所述第一檢測裝置用于對待檢測物體進(jìn)行物理掃描;第二檢測裝置,所述第二檢測裝置設(shè)置在所述第一檢測裝置的上游或下游,用于對所述待檢測物體進(jìn)行化學(xué)檢測;以及輸送裝置,用于將所述待檢測物體輸送至第一檢測裝置和第二檢測裝置。所述第二檢測裝置包括柔性采樣機構(gòu),所述柔性采樣機構(gòu)包括:第一柔性采樣機構(gòu),用于采集所述待檢測物體上的微粒樣本;和第二柔性采樣機構(gòu),用于采集所述待檢測物體上的氣體樣本。本公開的全自動探測系統(tǒng)和方法具有檢測精度高、檢測速度快、操作簡單且可自動完成的優(yōu)點。
聲明:
“全自動探測系統(tǒng)和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)