一種氧化物的刻蝕工藝的監(jiān)測方法,所述方法包括:提供半導體襯底,所述半導體襯底的表面形成有氧化物;刻蝕去除所述氧化物的至少一部分;采用化學溶液清洗所述半導體襯底的表面,所述化學溶液能夠與所述半導體襯底反應(yīng),而未能與所述氧化物反應(yīng);檢測清洗后的半導體襯底的表面,以確定是否存在殘留的氧化物。本發(fā)明方案可以更準確地檢測到氧化物刻蝕缺陷,從而及時地確認刻蝕工藝的異常狀況,有助于保證產(chǎn)品良率。
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