本發(fā)明屬于顯微成像及光譜測量技術(shù)領(lǐng)域，將共焦顯微技術(shù)與光譜探測技術(shù)相結(jié)合，涉及一種“圖譜合一”的高分辨光譜成像與探測方法及裝置，可用于各類樣品的三維形貌重構(gòu)及微區(qū)形態(tài)性能參數(shù)測量。該方法與裝置利用傳統(tǒng)共焦拉曼系統(tǒng)遺棄的瑞利光采用共焦技術(shù)對(duì)樣品進(jìn)行位置探測，光譜探測系統(tǒng)進(jìn)行光譜探測，利用傳統(tǒng)共焦拉曼光譜探測技術(shù)遺棄的布里淵散射光對(duì)材料的彈性和壓電等性質(zhì)進(jìn)行測試，從而實(shí)現(xiàn)樣品微區(qū)高空間分形態(tài)參數(shù)測量。本發(fā)明具有定位準(zhǔn)確，高空間分辨力，光譜探測靈敏度高和測量聚焦光斑尺寸可控等優(yōu)點(diǎn)，在生物醫(yī)學(xué)、法庭取證、微納制造、材料工程、工程物理、精密計(jì)量、物理化學(xué)等領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用前景。