本發(fā)明涉及基于多場(chǎng)耦合的高分辨原位X射線衍射系統(tǒng)及其測(cè)試方法,該方案基于高分辨薄膜XRD設(shè)備,還包括設(shè)于高分辨薄膜XRD上的原位腔體、設(shè)于該原位腔體內(nèi)的樣品架、設(shè)于該樣品架上的電加熱條和溫度傳感器、設(shè)于該原位腔體外的外置
電化學(xué)工作站以及與該外置電化學(xué)工作站電連接的正負(fù)電極片;原位腔體上還連接有與原位腔體連通的冷卻水通道;正負(fù)電極片位于原位腔體內(nèi)。本申請(qǐng)結(jié)合現(xiàn)有高分辨薄膜XRD設(shè)備的硬件特點(diǎn),并進(jìn)行改造,構(gòu)建加熱加電耦合的原位環(huán)境,開(kāi)發(fā)出新的原位電熱反應(yīng)的測(cè)試系統(tǒng)和方法,填補(bǔ)了現(xiàn)有技術(shù)的空白。
聲明:
“基于多場(chǎng)耦合的高分辨原位X射線衍射系統(tǒng)及其測(cè)試方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)