本發(fā)明公開了一種基于彩色相機(jī)的高溫溫度場分布測試裝置和方法,包括光學(xué)部分、電學(xué)部分和軟件部分;光學(xué)部分包括衰減濾光片組和光學(xué)鏡頭;電學(xué)部分包括彩色相機(jī)、數(shù)據(jù)線和計算機(jī);衰減濾光片組、光學(xué)鏡頭和彩色相機(jī)依次螺紋連接;彩色相機(jī)與計算機(jī)電連;待測高溫目標(biāo)發(fā)出光輻射,經(jīng)衰減濾光片組衰減和濾波,彩色相機(jī)上的感光
芯片CCD或CMOS,按照R、G、B三基色,將相應(yīng)波段的光信號轉(zhuǎn)換成電信號,傳輸?shù)接嬎銠C(jī),經(jīng)軟件部分解析出待測高溫目標(biāo)的溫度場分布。本發(fā)明的測試結(jié)果,受待測目標(biāo)狀態(tài)、表面粗糙程度、表面化學(xué)特性等因素影響小,能夠?qū)崿F(xiàn)高溫溫度場分布的高準(zhǔn)確度測試,實時精確反應(yīng)待測目標(biāo)的溫度場特性。
聲明:
“基于彩色相機(jī)的高溫溫度場分布測試裝置和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)