本發(fā)明涉及金屬材料領(lǐng)域,特別提供了一種定量測量細(xì)晶材料超塑變形中晶界滑移貢獻(xiàn)的方法,解決劃痕相對于晶粒尺寸太寬,無法滿足定量測量的需要等問題,適用于各種金屬材料,包括
鋁合金、鎂合金、鋅合金、銅合金、鋼鐵及金屬基
復(fù)合材料。將拉伸樣品表面通過機(jī)械或化學(xué)方法拋光后,使用納米壓痕儀在樣品表面劃刻出適當(dāng)尺寸的劃痕,劃痕標(biāo)記線寬度小于晶粒尺寸,標(biāo)記線平行于拉伸方向;然后進(jìn)行超塑性拉伸,根據(jù)變形后樣品表面劃痕的偏移量、晶粒尺寸及拉伸變形量,定量計算晶界滑移在細(xì)晶材料超塑性變形中的貢獻(xiàn)。因此,本發(fā)明在超塑性變形研究方面將有著廣闊的應(yīng)用前景。
聲明:
“定量測量細(xì)晶材料超塑變形中晶界滑移貢獻(xiàn)的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)