本發(fā)明基于暗場(chǎng)成像的固態(tài)納米通道的光電同步傳感方法,包括以下步驟:⑴制備涂敷有金屬納米涂層的半導(dǎo)體基片薄膜;⑵制備金屬覆膜納米通道
芯片;⑶制備光電檢測(cè)微池;⑷利用金屬覆膜納米通道暗場(chǎng)成像;⑸利用金屬覆膜納米通道記錄離子電流強(qiáng)度;⑹加入待測(cè)物進(jìn)行光電同步檢測(cè);⑺多通道數(shù)據(jù)分析。本發(fā)明通過(guò)光電同步傳感的方法,不引入染料基團(tuán),無(wú)需標(biāo)記即能對(duì)單個(gè)納米待測(cè)物穿納米通道的過(guò)程實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè),實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)物體積、帶電情況、光學(xué)性質(zhì)、化學(xué)結(jié)構(gòu)等動(dòng)態(tài)信息的采集,能從多個(gè)維度觀測(cè)單個(gè)待測(cè)物在運(yùn)動(dòng)過(guò)程中各類(lèi)性質(zhì)變化的情況;實(shí)現(xiàn)了大規(guī)模多通道信號(hào)的同步獲取,加速了納米通道技術(shù)的檢測(cè)速率,擴(kuò)大了其應(yīng)用領(lǐng)域。
聲明:
“基于暗場(chǎng)成像的固態(tài)納米通道的光電同步傳感方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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