本發(fā)明屬于激光拉曼檢測技術領域,公開了一種表面增強拉曼散射基底及其制備方法和應用。該基底的表面覆蓋有有序刻蝕銀納米線膜,該有序刻蝕銀納米線薄膜是由相互平行的刻蝕銀納米線有序排列而成,刻蝕銀納米線之間的平均間距0?15nm,單根刻蝕銀納米線表面的粗糙度在0?20nm。制備方法是利用化學方法在銀納米線表面進行刻蝕,再將這種刻蝕銀納米線通過三相界面法進行自組裝,然后轉移到基底表面。該方法不僅具有方法簡單、成本低廉、易于實現(xiàn)等優(yōu)點。將該基底用于SERS檢測,具有較高的檢測靈敏度,用羅丹明B為探針分子時最低檢測限可達10?11M,在食品、環(huán)境、醫(yī)療、生物等領域有廣泛的潛在應用前景。
聲明:
“表面增強拉曼散射基底及其制備方法和應用” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)