本發(fā)明公開一種光學(xué)表征含動態(tài)鍵高分子材料松弛過程的裝置及方法,該裝置包括依次同軸設(shè)置的平面平行光源、起偏鏡、對面透明環(huán)境箱、檢偏鏡和記錄裝置,設(shè)置在對面透明環(huán)境箱上的加載裝置;方法為:1)將含有動態(tài)化學(xué)鍵的高分子材料試樣置于線偏振平面平行光環(huán)境下;2)在線偏振平面平行光環(huán)境下,標(biāo)定試樣的各項參數(shù);3)通過外力使試樣發(fā)生變形,并保持其形變。4)激活試樣中的動態(tài)鍵交換反應(yīng);5)記錄經(jīng)由檢偏鏡疊加合成后出現(xiàn)的干涉條紋的光強(qiáng)信息。6)依據(jù)記錄到的干涉條紋的光強(qiáng)信息,計算當(dāng)前試樣中的應(yīng)力松弛狀態(tài)。本發(fā)明通過非接觸式的方法測量含動態(tài)化學(xué)鍵材料內(nèi)部的應(yīng)力狀態(tài),確定其重塑過程中的應(yīng)力水平,為其熱處理時間與溫度提供設(shè)計依據(jù)。
聲明:
“光學(xué)表征含動態(tài)鍵高分子材料松弛過程的裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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