本發(fā)明公開了一種電芯結(jié)構(gòu)件接觸電阻的獲取方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),電芯結(jié)構(gòu)件接觸電阻的獲取方法包括:采用
電化學(xué)熱模型對(duì)不同倍率的充放電壓仿真曲線和溫度仿真曲線進(jìn)行修正;通過(guò)修正后的所述電化學(xué)熱模型仿真設(shè)定工況下的電化學(xué)產(chǎn)熱;建立電熱耦合模型并導(dǎo)入所述電化學(xué)產(chǎn)熱;對(duì)所述電熱耦合模型加載所述設(shè)定工況;調(diào)節(jié)不同焊接位置的接觸電阻,以使每個(gè)測(cè)試區(qū)域的仿真溫度數(shù)據(jù)與實(shí)測(cè)溫度數(shù)據(jù)匹配;當(dāng)所述測(cè)試區(qū)域的仿真溫度數(shù)據(jù)與實(shí)測(cè)溫度數(shù)據(jù)相匹配時(shí),獲取結(jié)構(gòu)件此時(shí)的接觸電阻值。本發(fā)明提供的技術(shù)方案,以獲取精準(zhǔn)的接觸電阻值,以便于對(duì)不同工況的電芯結(jié)構(gòu)件的過(guò)流能力進(jìn)行評(píng)估。
聲明:
“電芯結(jié)構(gòu)件接觸電阻的獲取方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)