本發(fā)明涉及精密工程領(lǐng)域,提供了一種點(diǎn)樣儀。所述點(diǎn)樣儀包括控制組件、微流體組件和測(cè)序反應(yīng)小室;所述控制組件控制微流體組件傳輸試劑;所述微流體組件用于將試劑傳輸?shù)綔y(cè)序反應(yīng)小室中;所述測(cè)序反應(yīng)小室包括至少一個(gè)點(diǎn)樣腔;所述測(cè)序反應(yīng)小室的內(nèi)表面經(jīng)過物理或化學(xué)處理。本發(fā)明提供的點(diǎn)樣儀能夠?qū)崿F(xiàn)全自動(dòng)化高質(zhì)量的點(diǎn)樣。
聲明:
“點(diǎn)樣儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)