本發(fā)明公開了一種通過X射線對含有金屬繩的被測目標(biāo)進(jìn)行無損檢測的系統(tǒng)以及一種通過X射線對含有金屬的被測目標(biāo)進(jìn)行無損檢測的方法。所述系統(tǒng)包括:超高壓發(fā)生器、X射線發(fā)生器、碘化銫傳感器、光纖模塊、控制模塊、計(jì)算機(jī)和電源模塊。所述方法包括步驟:記錄一維能量變化數(shù)據(jù)、拼接成二維圖像、轉(zhuǎn)存到GPU中、暗電流消除、增益調(diào)整、金屬區(qū)域分割、缺陷檢測、轉(zhuǎn)儲到計(jì)算機(jī)內(nèi)部存儲器、特征提取、模式識別并輸出結(jié)果。本發(fā)明通過X射線、GPU計(jì)算、圖像處理算法解決了其他方法檢測精度低、反饋周期長、離線抽查、效率低等缺陷,可滿足皮帶生產(chǎn)廠家及礦山、港口、發(fā)電廠、鋼廠、水泥廠等多種終端用戶的需求。
聲明:
“通過X射線檢測含金屬被測物的無損檢測系統(tǒng)和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)