本發(fā)明涉及一種可檢測航發(fā)渦輪盤晶粒尺寸分布的超聲無損檢測方法,包括以下步驟:1)采用超聲檢測系統(tǒng)和水浸超聲聚焦探頭對航發(fā)渦輪盤鎳基高溫合金試塊掃查采集超聲背散射信號,并采用石英玻璃得到超聲參考信號;2)分別對超聲背散射信號和參考信號進(jìn)行傅里葉變換得到頻域曲線;3)根據(jù)頻域曲線計算超聲背散射系數(shù)實驗曲線,并根據(jù)理論模型計算背散射系數(shù)理論曲線;4)將超聲背散射系數(shù)實驗和理論曲線在一定頻率范圍內(nèi)擬合得到晶粒平均尺寸;5)將掃查區(qū)域分成若干小的方形區(qū)域,計算每個小的方形區(qū)域內(nèi)的晶粒平均尺寸,得到晶粒尺寸二維分布圖像。本發(fā)明實現(xiàn)了航空發(fā)動機(jī)渦輪盤晶粒尺寸分布的二維快速成像,檢測精度高。
聲明:
“可檢測航發(fā)渦輪盤晶粒尺寸分布的超聲無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)