本發(fā)明涉及一種X或γ輻射成像檢測方法與裝置,屬于核技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域,包括射線源、前準(zhǔn)直器、拖動(dòng)機(jī)構(gòu),其特征在于:在射線源與被檢客體間設(shè)置有帶格柵形準(zhǔn)直器的背散射陣列探測裝置及其信號采集與處理系統(tǒng),該背散射陣列探測裝置的各探測器元分別探測來自客體上射線作用區(qū)內(nèi)不同部位的背散射。還包括在被檢客體的后面設(shè)置透射陣列探測裝置及其信號采集與處理系統(tǒng),以及置于該透射陣列探測裝置前的后準(zhǔn)直器。本發(fā)明可使其中有機(jī)物或其它富含氫元素物質(zhì)的影像能自動(dòng)加亮,進(jìn)一步結(jié)合透射輻射成像技術(shù),更有利于獲取被檢客體的全面信息。
聲明:
“X或γ輻射成像檢測方法與裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)