適于材料科學(xué)和光電子學(xué)領(lǐng)域的透明材料無損檢測的光散射層析術(shù)(簡稱LST法)及其裝置,用高亮度的激光束(如調(diào)Q—YAG的SHG激光束)作入射光源,利用Tyndall現(xiàn)象,為透明材料的無損檢測提供更高精度更為方便而適用的觀察方法和檢測技術(shù)。本技術(shù)對被測樣品是無損的,并且被測樣品的尺寸不受限制,制樣也非常簡單,同時,它能提供缺陷的三維分布的直接形貌圖。
聲明:
“透明材料無損檢測的光散射層析術(shù)及其裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)