本發(fā)明涉及一種用于晶體材料(包括單晶材料和多晶材料)或含有原子沿一維空間排列有序的材料(如纖維增強的
復合材料)工件內(nèi)部缺陷的X射線衍射掃描無損檢測方法和裝置,尤其是適用于較低原子序數(shù)原子構(gòu)成的材料工件內(nèi)部缺陷的檢測。它通過無損檢測得到的被測工件內(nèi)部各部位物質(zhì)的衍射強度分布圖,無損檢測分析被測工件內(nèi)部缺陷、缺陷類型及其分布。采用容易獲得的可工業(yè)化實用的重金屬陽極靶的X射線管輻射,也能快捷、無損檢測厚度達數(shù)拾毫米厚的鋁、鎂工件內(nèi)部缺陷及其缺陷類型,且空間分辨率優(yōu)于現(xiàn)有的X射線探傷機、X射線CT。
聲明:
“工件內(nèi)部缺陷的X射線衍射掃描無損檢測方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)