本發(fā)明涉及一種銅銦鎵硒薄膜太陽電池電學(xué)性能無損檢測方法,解決了現(xiàn)有技術(shù)中太陽電池電學(xué)性能不能無損檢測的問題。該方法包括:建立待測太陽電池的等效電路模型;根據(jù)設(shè)定的待測太陽電池直流偏壓范圍及步長,在每個直流偏壓下,變化待測太陽電池兩端交流電壓的角頻率,利用所述等效電路模型,獲取所述太陽電池總電容隨所述角頻率變化的測試曲線,得到不同直流偏壓下的特征頻率;根據(jù)所述不同直流偏壓下的特征頻率數(shù)據(jù),線性擬合得到直線斜率;根據(jù)所述直線斜率和太陽電池參數(shù),獲取所述太陽電池的電阻率及遷移率,根據(jù)所述電阻率和遷移率得到所述太陽電池的性能狀態(tài),實(shí)現(xiàn)了太陽電池電學(xué)性能的無損檢測。
聲明:
“銅銦鎵硒薄膜太陽電池電學(xué)性能無損檢測方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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