本發(fā)明提供了一種高精度無損檢測材料相對介電常數(shù)的計算方法及系統(tǒng),其通過對入射角θ
i和/或測試距離L
r實時變化的測試結(jié)果進(jìn)行優(yōu)化從而高精度計算出待測材料的相對介電常數(shù),包括如下步驟:a.獲取界面反射系數(shù)幅值Γ,并基于所述界面反射系數(shù)幅值Γ獲取待測試材料的第一相對介電常數(shù)ε
r1,通過測試距離優(yōu)化結(jié)果、入射角度優(yōu)化結(jié)果以及入射角度與測試距離同步優(yōu)化結(jié)果等計算方式,極大的減少了相對介電常數(shù)的誤差,實現(xiàn)了無損檢測材料相對介電常數(shù)的高精度,本發(fā)明操作簡單,使用方便,實用性強(qiáng),提供了一種高精度無損檢測材料相對介電常數(shù)的計算方法及系統(tǒng),具有極高的檢測價值。
聲明:
“高精度無損檢測材料相對介電常數(shù)的計算方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)