本發(fā)明公開了一種基于雙目標遺傳算法和非劣分層的超聲無損檢測探頭分布優(yōu)化方法。該方法屬于超聲無損檢測范疇,在保證獲得較高缺陷檢測正確率的前提下,通過雙目標遺傳算法和非劣分層方法,優(yōu)化其探頭的數(shù)量和位置。該方法基于COMSOL?Multiphysics有限元,對材料內(nèi)部缺陷進行超聲無損檢測仿真。通過仿真獲取了各個探頭對于不同位置的缺陷回波,并提取其回波的峰值。在此基礎上,針對探頭數(shù)量和位置設計了雙目標函數(shù),并采用雙目標遺傳算法和非劣分層對其進行優(yōu)化,并獲得可行解,為后續(xù)探頭的分布優(yōu)化提供了可選的空間。
聲明:
“基于雙目標遺傳算法和非劣分層的超聲無損檢測探頭分布優(yōu)化” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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