本實(shí)用新型公開一種B型套袖相控陣無損檢測(cè)校準(zhǔn)用試塊,包括:自上而下依次連接的第一階梯、第二階梯以及第三階梯,第一階梯與第一頂面相鄰的側(cè)面設(shè)有第一列缺陷組,第二階梯的頂面設(shè)有第二列缺陷組;第一列缺陷組,包括多個(gè)第一缺陷,多個(gè)第一缺陷間隔設(shè)置且沿第一斜向預(yù)設(shè)角排列;第二列缺陷組,包括多個(gè)第二缺陷,多個(gè)第二缺陷間隔設(shè)置且沿第二斜向預(yù)設(shè)角排列;其中,第一列缺陷組與第二列缺陷組錯(cuò)開排列。B型套袖相控陣無損檢測(cè)校準(zhǔn)用試塊采用均傾斜設(shè)置的第一列缺陷組和第二列缺陷組,不僅可模擬B型套袖焊接接頭的各種實(shí)際缺陷,同時(shí)也避免各個(gè)缺陷之間干擾,從而可極大提高超聲波相控陣檢測(cè)的精確度和準(zhǔn)確性。
聲明:
“B型套袖相控陣無損檢測(cè)校準(zhǔn)用試塊” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)