本發(fā)明公開了一種基于偏最小二乘回歸的紅外無(wú)損檢測(cè)電磁激勵(lì)數(shù)學(xué)模型建模方法。利用平板型電磁線圈對(duì)金屬材料表面進(jìn)行電磁激勵(lì),采用紅外熱像儀獲取激勵(lì)前后金屬材料表面平均溫度差信息,并將該溫度差作為表征電磁激勵(lì)效果的指標(biāo)。選擇影響電磁激勵(lì)效果的參數(shù),通過(guò)改變參數(shù)的值改變電磁激勵(lì)效果。將激勵(lì)前后材料表面平均溫度差作為偏最小二乘回歸建模方法的因變量,將影響電磁激勵(lì)效果的參數(shù)作為自變量,利用偏最小二乘回歸算法建立電磁激勵(lì)數(shù)學(xué)模型表征電磁激勵(lì)效果指標(biāo)與影響電磁激勵(lì)效果各參數(shù)之間的關(guān)系。本發(fā)明對(duì)金屬電磁激勵(lì)作用效果的研究及金屬缺陷的紅外無(wú)損檢測(cè)激勵(lì)源的研究有指導(dǎo)作用。
聲明:
“基于偏最小二乘回歸的紅外無(wú)損檢測(cè)電磁激勵(lì)數(shù)學(xué)模型建模方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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