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紅外熱成像快速無(wú)損檢測(cè)薄膜厚度均勻性的方法

786   編輯:管理員   來(lái)源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 08:57:49
本發(fā)明提供了一種紅外熱成像快速無(wú)損檢測(cè)薄膜厚度均勻性的方法。該方法利用加熱裝置提供均勻、穩(wěn)定的熱通量加熱待測(cè)薄膜,加熱后的薄膜向外發(fā)出紅外輻射,紅外攝像裝置接收輻射信號(hào),并將輻射信號(hào)轉(zhuǎn)變成電信號(hào),經(jīng)后處理裝置處理后,將待測(cè)薄膜表面的溫度分布圖顯示出來(lái)。在某一特定時(shí)刻,待測(cè)薄膜表面的溫度變化的百分比與厚度變化的百分比相等。待測(cè)薄膜表面溫度無(wú)差異就說(shuō)明薄膜厚度均勻。該方法可以快速、無(wú)損檢測(cè)薄膜厚度均勻性,且無(wú)視待測(cè)薄膜是否導(dǎo)電、是否透明。可用于鋰電池極片、塑料袋的密封檢測(cè)等。
聲明:
“紅外熱成像快速無(wú)損檢測(cè)薄膜厚度均勻性的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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